X-RAY DIFFRACTOMETER (EQUINOX 5000)
Equinox 5000 là thiết bị nhiễu xạ tia X được dùng xác định các đặc trưng của vật liệu như thông tin định tính, định lượng pha tinh thể, độ kết tinh của mẫu nghiên cứu, xác định được hệ cấu trúc và các hằng số mạng tinh thể...
Các thông số kỹ thuật
-
Nguồn điện: 30-32A / 208-230V / 50-60 Hz
-
Nguồn tia X: Bức xạ Cu-Ka; bước sóng l = 1,54056 Ǻ; Công suất tối đa 3500 W.
-
Detector: SPS120, sử dụng khí C2H4/Ar = 15/85.
-
Góc đo 2Theta: 120°.
-
Khảo sát in-situ trong nhiệt độ cao: T = 20-1600oC
-
Nước làm mát: 3,5 L/min; T = 18-25°C
-
Thư viện số liệu: ICDD PDF2, PDF4
Tính năng thiết bị
-
Đo nhiễu xạ tia X cho các mẫu dạng bột, khối, màng và lỏng ở nhiệt độ phòng
-
Đo nhiễu xạ in-situ trong nhiệt độ T = 20-1600°C cho các mẫu dạng bột, khối và màng.
-
Các chế độ đo: mẫu cố định, mẫu quay, phản xạ hoặc truyền qua.
-
Phân tích pha tinh thể, nghiên cứu cấu trúc tinh thể.
-
Nghiên cứu chuyển pha tinh thể, động học pha tinh thể.
-
Tra cứu thông tin nhiễu xạ tia X trong thư viện số liệu ICDD PDF2, PDF4.