Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường

27/10/2021 - 06:45 PM


FE-SEM (S-4800, HITACHI)


+ Các thông số kỹ thuật:

  • Độ phân giải ảnh điện tử thứ cấp:
  • 1.0 nm (15kV, WD = 4nm)
  • 1.4 nm (1 kV, WD = 1,5nm)
  • Độ phóng đại Kiểu phóng đại thấp 20 - 2000 lần
  • Kiểu phóng đại cao 100 - 800000 lần ·
  • Đầu dò điện tử truyền qua cho phép nhận ảnh theo kiểu STEM ·
  • Hệ EMAX ENERGY (EDX) cho phép phân tích nguyên tố trong vùng có kích thước μm

+ Tính năng thiết bị:
 
- Xác định hình thái, cấu trúc, kích thước, thành phần nguyên tố của các mẫu ở dạng khối, màng mỏng, bột.

Các thông số kỹ thuật
  • Độ phân giải ảnh điện tử thứ cấp:
  • 1.0 nm (15kV, WD = 4nm)
  • 1.4 nm (1 kV, WD = 1,5nm)
  • Độ phóng đại Kiểu phóng đại thấp 20 - 2000 lần
  • Kiểu phóng đại cao 100 - 800000 lần ·
  • Đầu dò điện tử truyền qua cho phép nhận ảnh theo kiểu STEM ·
  • Hệ EMAX ENERGY (EDX) cho phép phân tích nguyên tố trong vùng có kích thước μm
Tính năng thiết bị
  • Xác định hình thái, cấu trúc, kích thước, thành phần nguyên tố của các mẫu ở dạng khối, màng mỏng, bột.
Viện khoa học vật liệu
© Bản quyền thuộc về Viện khoa học vật liệu